表面阻抗分析儀產品及廠家
適用于測量粉末、粉體、顆粒物、氣體、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。
更新時間:2025-06-05
適用于半導體材料企業、科研、高等院校及實驗室分析半導體材料縱向電阻率；可測量橫截面積均勻的圓形、方形或矩形硅單晶的電阻率，試樣長度與截面尺寸之比應不小于3:1
更新時間:2025-06-05
ft-351a高溫固體四探針電阻率測試儀 ，采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫箱結合配置高溫四探針測試探針治具與pc軟件對數據的處理和測量控制，解決半導體材料的電導率對溫度變化測量要求，軟件實時繪制出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線圖譜，及過程數據值的報表分析。
更新時間:2025-06-05
ft-400ahxm-qj487化學轉化膜表面電阻測試儀功能介紹function introduction 采用四端測量法,配置測量平臺。液晶顯示，溫度補償功能，電阻率單位自動選擇。數顯壓強，上下限及報警功能pc軟件實時數據和報表管理;中英文版本。
更新時間:2025-06-05
絕緣粉末/液體電阻率測試儀測定方法，絕緣材料存在的狀態有固態規則形狀如（長方體，圓柱體等是固有形狀）及不規則狀態（如粉末狀,膏體狀，液態流動狀），目前對絕緣體材料的測試方法和測量方式基本上是采用三環電極結構測量規則形狀體，而不規則狀材料的測試較少，本機主要能滿足傳統的電阻測量外，還可以測試不規則狀態。
更新時間:2025-06-05
糖粉粉末電阻率測試儀技術參數，功能介紹：本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試
更新時間:2025-06-05
石墨粉電阻率測試儀樣品檢測，功能介紹：本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治
更新時間:2025-06-05
粉末電阻率測試儀 本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試
更新時間:2025-06-05
塑料絕緣材料表面/體積電阻率測試儀現貨，概況：(1)適用標準：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》
更新時間:2025-06-05
瑞柯導體粉末電阻率測試儀的的適用范圍 本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-06-05
瑞柯系列普通四探針電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準，本機配置232電腦
更新時間:2025-06-05
電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀的供應商根據國標gb11017-89所規定的測試方法和技術要求制造，用來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，四端法測試原理，通過測試裝置能夠滿足不同線徑之產品測量其屏蔽層電阻率。
更新時間:2025-06-05
系列雙電四探針粉末電阻率測試儀數據管理粉體受到壓縮直至平穩時，粉體空隙率非常小，壓實密度接近于真密度狀態，則此時測試出來的粉末電導率為接近于理論值.
更新時間:2025-06-05
覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試
更新時間:2025-06-05
全量程四探針測試儀，四探針法，可測微歐到兆歐方阻值量程，采用ad芯片控制，恒流輸出， pc軟件運行，自動數據測量和系數修正，直讀方阻，電阻，電阻率和電導率數據；中文或英文語言版本；具有屏蔽功能；參考美國 a.s.t.m 標準。單晶硅物理測試方法
更新時間:2025-06-05
導體和絕緣材料電阻率測試儀，具有寬量程測試范圍，覆蓋從導體材料至絕緣材料測試的測量；pc軟件對數據處理和分析，直讀電阻，電阻率和電導率數據，具有屏蔽保護功能，一體化結構設計，配備低阻和高阻測量治具；232通訊端口，標準電阻校準儀器；提供中文或英文操作界面.
更新時間:2025-06-05
自動鋰電池片電導率測試儀，采用平面探頭，對被測樣品施加一定的壓力來分析片整體電阻，自動加壓，壓力可設定； pc軟件界面操作，實現壓強與電阻,電阻率，電導率關系圖譜；
更新時間:2025-06-05
導電和抗靜電橡膠電阻率測試儀，含有炭黑或電離物質的導電性能或耗損性能的硫化橡膠和熱塑性橡膠經特殊制備的試樣在實驗室對其體積電阻率的測定，在橡膠配料中摻入電離物質也可以使混煉膠具有抗靜電性能；用于電阻率低于10^10ω.m的物質.
更新時間:2025-06-05
材料高溫電阻率測試系統，材料電阻、電導率和電阻率，并配合溫度試驗箱結合高溫治具與pc軟件對數據的處理和測量控制，解決材料的電導率對溫度變化測量要求，軟件實時繪制出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線圖譜，及過程數據值的報表分析.
更新時間:2025-06-05
高絕緣電阻率測試儀，測量橡膠、塑膠、粉末、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。高絕緣電阻率測試儀
更新時間:2025-06-05
電池片電導率測試儀，采用平面探頭，對被測樣品施加一定的壓力來分析片整體電阻，自動加壓，壓力可設定； pc軟件界面操作，實現壓強與電阻,電阻率，電導率關系圖譜；
更新時間:2025-06-05
四探針法粉末電導率測試儀，已知量的粉體，在液壓動力下壓縮體積至設定壓力值或壓強，在線測量粉體電阻、電阻率、電導率，并記錄數據.解決粉體難壓片成型或壓片取出測量誤差.
更新時間:2025-06-05
高溫四探針電阻率測試儀功能介紹：液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：
更新時間:2025-06-05
四探針方阻電阻率測試儀，使用方便；配備軟件電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
更新時間:2025-06-05
ft-353絕緣材料高溫表面電阻測試儀適用范圍：適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-06-05
硅片高溫方阻測試儀 廣泛用于：生產企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ito）和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導率數據 硅片高溫方阻測試儀
更新時間:2025-06-05
浙江高溫四探針電阻率測試系統廠家直銷 液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表； 浙江高溫四探針電阻率測試系統廠家直銷
更新時間:2025-06-05
直流低電阻測試儀性能特點:5位led顯示，穩定性好。最小的分辨率：1μω直讀值與百分比誤差顯示、上超、下超、合格分選及訊響功能提供rs-232c接口及handler接口（選配）
更新時間:2025-06-05
智能粉末電阻率測試儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關面板，操作簡單，耐用，符合人體工學操作規范
更新時間:2025-06-05
四探針電阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-06-05
寧波半導體電阻率測試儀 按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準。
更新時間:2025-06-05
負極材料粉末電阻率測試儀 滿足：yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法 第6部分 粉末電阻率的測定；本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
更新時間:2025-06-05
導電材料電阻率測試儀采用四端測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門，實驗室是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電阻率。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-06-05
多功能材料電阻率測試儀適用于生產企業、高等院校、科研部門，實驗室是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電阻率。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置
更新時間:2025-06-05
通用型粉末電阻率測試儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關面板，操作簡單，耐用，符合人體工學操作規范.
更新時間:2025-06-05
絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試儀適用標準：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（與國際標準iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》.
更新時間:2025-06-05
導體材料高溫電阻率測試儀廣泛用于：生產企業、高等院校、科研部門對導體材料在高溫下電阻率數據的測量.同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
更新時間:2025-06-05
材料低電阻率測試儀滿足標準： gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.
更新時間:2025-06-05
雙電測電四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-06-05
四探針方阻儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準，本機配置232電腦接口及usb兩種接口.
更新時間:2025-06-05
方塊電阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準.
更新時間:2025-06-05
薄膜方阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-06-05
數字式四探針測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-06-05
自動導體粉末電阻率測試儀采用一體化結構設計，將粉末比電阻的測量與粉體電阻率/電導率分析為一體，測量與數據分析通過pc軟件完成，粉體壓強與電阻值、電阻率、電導率值的變化關系
更新時間:2025-06-05
雙電測電四探針電阻率測試儀本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-06-05
薄膜電阻率測試儀該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-06-05
薄膜或涂層方塊電阻測試儀該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-06-05
導電薄膜方塊電阻測試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
更新時間:2025-06-05
端子電壓降測試儀滿足標準：qc/t 730-2005 ;iso 6722：2002 gb/t 2951—1997; gb/t 3048—1994 qc/t29106-2004; qc/t413-2002 ;qc/t413-2002;同時滿足德國、法國、韓國、日本、等國家標準要求和測試規范，電壓降實驗按qc/t29106-2004標準5.7進行實驗 qc/t29106-2004標準.
更新時間:2025-06-05
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