| 光學系統 | 無限遠色差校正光學系統 |
光學放大倍數 | 50倍-500倍(可選1000倍) | |
數碼放大倍數 | 150倍-1500倍(21.5寸顯示器)搭配100倍物鏡倍數可達3000倍 | |
工業相機 | 1200萬1/1.8寸彩色索尼工業芯片(可選630萬和2000萬像素) | |
觀察筒 | 角度可調,正像,無限遠鉸鏈三通觀察筒,瞳距調節:50mm~76mm,兩檔分光比雙目:三目=100:0 | |
目鏡 | 高眼點大視野目鏡SWH10X-H/23mm,視度可調 | |
物鏡 | 無限遠長工作距明暗場半復消色差金相物鏡 5X NA0.15 WD15 | |
| 無限遠長工作距明暗場半復消色差金相物鏡 10X NA0.30 WD8.4 | |
| 無限遠長工作距明暗場半復消色差金相物鏡 20X NA0.40 WD11.9 | |
| 無限遠長工作距明暗場半復消色差金相物鏡 50X NA0.75 WD3.0 | |
| 無限遠長工作距明暗場半復消色差金相物鏡 100X NA0.90 WD1.0 (可選) | |
| 無限遠長工作距明暗場全復消色差金相物鏡 50X NA0.55 WD8.0 (可選) | |
| 無限遠長工作距明暗場全復消色差金相物鏡 100X NA0.80 WD2.8 (可選) | |
物鏡轉換器 | 手動明暗場五孔物鏡轉盤///電動明暗場5孔轉換器(帶DIC插槽),物理按鈕和軟件雙控. | |
機架 | 透反射用機架, 低手位粗微同軸調焦機構。粗調行程35mm,微調精度0.001mm。帶有防止下滑的調節松緊裝置和隨機上限位裝置。內置100-240V寬電壓系統,采用數字調光,具有光強設定與復位功能 | |
載物臺 | 6英寸平臺,平臺面積 450*240mm,移動行程:158mmX158mm機械平臺,X、Y方向同軸調節;含快速移動裝置 | |
聚光鏡 | 搖出式消色差聚光鏡(N.A.0.9) | |
反射照明器 | 明暗場反射照明器,帶可變孔徑光闌,視場光闌,中心可調,帶濾色片插槽,帶起偏鏡/檢偏鏡插槽, | |
燈室 | 5W可調LED燈室,透、反射通用,預定中心 | |
攝像接口 | 攝影攝像附件:0.65X,C型接口,可調焦(可選0.5X/1X) | |
偏光組件 | 起偏鏡插板,360°旋轉式檢偏鏡插板 | |
電腦 | 品牌電腦和顯示器 | |
測量軟件 | 測量軟件OMT-1.5D,軟件控制電動物鏡轉盤,拍照,錄像,測量,掃碼上傳,實時圖像拼接,景深融合 | |
標尺 | 高精度型測微尺,格值0.01mm |
基于對納米先進技術的理解,Nano analytik公司研制出獨特的AFM系統。通用,緊湊,操作非常簡單,并適合很多種類的應用。這種新型的初級AFM系統研制的目的是提供一種快速的納 米尺寸的成像,它使用的是“Rangelow”型的懸臂梁,而非光學。這些懸臂上集成有傳感器和執行器,不必象其他人工操作AFM那樣,有著復雜著激光調 節的步驟。
特別是,這個系統非常適合化學和生物檢測/識別,可應用于材料和生命科學應用領域。這個獨特且高精度的測量儀器設計得非常靈活,可以非常容易地用于如化學 和生物傳感器,可以作為這些傳感器的第一臺表征系統,它可以研究和校準不同的壓阻式或電容式懸臂梁。Nano analytik系統是一臺用戶友好的納米技術工具,它開放的模塊化構架,使得這臺卓越的儀器可以很容易地按照用戶需求被擴展或修改。
產品特點:
小設計,大理念
我們的AFM的解決方案由獲獎團隊設計和制造。主導思想是偏轉/信號直接從懸臂梁上產生,我們直接從那里讀取數據,從而避免了環境的影響。
直觀實用
我們遵循簡單實用的設計理念。
模塊化設計
我們的創新解決方案可以很容易地適應您的個人需求;谀K化的系統,部件如減震、腔室環境、位置工作臺、掃描和探針可以被預先設置,或將來實現您標準配置的再升級。
功能指標:
操作模式 | 交流模式 / 直流模式 |
三維形貌 | YES |
振幅/相位圖像 | YES |
力曲線圖 | YES |
樣品/探針接近 | 自動 |
探針調諧 | 自動 |
檢測原理 | 壓阻 |
掃描范圍 | Pales掃描器*: 20 μm × 20 μm × 5 μm Adeona 掃描器: 15 μm × 15 μm × 4 μm |
*本底噪聲 | 0.01 nm rms 垂直方向 |
*橫向精度 | 99.7% 閉環掃描 |
*掃描速度 | 0.01 to 40Hz |
同步圖像 | 相位、頻率、振幅、不平度 |
可選功能 | MFM - EFM - PFM - C-AFM –SThM 磁力顯微鏡-靜電力顯微鏡- 壓電力顯微鏡-導電原子力顯微鏡-掃描熱顯微鏡 |
更多德國Nano analytik原子力顯微鏡介紹,點擊查看:http://www.germantech.com.cn/new/cplook.asp?id=523
“aigo”GE7-SW系列生物數碼顯微鏡是顯微鏡的一次革新,突破了顯微鏡功能的極限,開創了顯微技術的新紀元!通過對顯微鏡光路的設計的改進,植入 CMOS 傳感器,通過USB2.0直接將數字信號傳輸到電腦,通過顯示器真實的再現圖像。數碼技術在顯微鏡中的應用,使顯微鏡的應用更加廣泛。配套的圖像采集軟件、測量軟件操作簡便、功能強大,并提供SDK開發包。
GE7-SW系列生物數碼顯微鏡技術規格技術規格 | GE7-SW1301/3001 | GE7-SW1302/3002 | |
電子目鏡 | 30 度鉸鏈式三目頭 130 萬像素 CMOS 數碼單目頭/300 萬像素 CMOS 數碼單目頭 | 30 度鉸鏈式三目頭 130 萬像素 CMOS 數碼單目頭/300 萬像素 CMOS 數碼單目頭 | |
光瞳間距 | 55mm -75mm | ||
目鏡 | WF10X/ 18mm | ||
物鏡 | 消色差物鏡 : 4X,10X,40X(S),100X(S)Oil | 無限遠物鏡 : 4X 10X 40X (S) 100X (S)Oil | |
平臺 | 雙層移動平臺 | ||
平臺尺寸:125mm×130mm | 平臺尺寸:180mm×150mm | ||
移動范圍:75mm×50mm | |||
聚光鏡 | N. A.1.25 阿貝聚光鏡帶可變光欄和濾色片 | ||
調焦 | 粗、微動同軸調焦,采用齒輪齒條傳動機構,微動格值 0.002mm | ||
集光鏡 | 高亮度固定式照明 | 高亮度柯勒照明 | |
光源 | 鹵素燈 6V/20W.AC 85V-230V | 鹵素燈 12V/20W.AC 85V-230V | |
亮度可調節 | |||
圖像采集軟件 | 預覽、拍照、錄像 | ||
測量軟件(選配) | 只支持130萬標準配置,長度、圓徑、角度、面積等測量 | ||
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產品名稱:維氏硬度計
產品型號:HV-1000
產品說明:
特別適合于測定金屬零件表面滲碳滲氮層及薄小零件的顯微硬度檢測,選配努氏壓頭可做努氏硬度試驗。產品參數:1、測量范圍:5-3000HV2、試驗力:0.09807、0.2452、0.4904、0.9807、1.961、2.942、4.904、9.807牛頓 (10、25、50、100、200、300、500、1000克力)3、測量系統放大倍數:500倍、125倍4、測量精度:0.125微米5、試件允許最大高度:75毫米6、壓頭中心至機壁距離:100毫米7、電源:交流220伏,50Hz8、外形尺寸:340 x 160 x 375毫米9、重量:約40千克主要附件:
1、座標試臺:1個
2、平口鉗:1個
3、金剛石角錐壓頭:1只
4、大V形塊:1
5、標準顯微硬度塊:2塊
6、小V形塊:1個
7、薄板試臺:1個
8、電子計算器:1個
9、細軸試臺:1個
一、特點:
采用鑄鐵底座,剛性好,不易變形,性能穩定;
主顯微鏡可作±12°偏擺,適用于螺旋狀零件的測量;
采用透、反射照明方式,內外輪廓均可測量;
成像清晰,多種目鏡觀測,視場范圍大;
可配備多種附件,使用范圍廣;
以精密光柵尺作為測量元件,采集點坐標可由計算機進行數據處理;
功能強大的軟件,可完成各種復雜的測量工作;
軟件數據可輸入CAD中進行處理,能、快捷地完成各項測繪工作;
全部采用LED(發光二極管)進行照明,發熱量低,壽命長。
二、用途:
能精確測量各種工件的尺寸、角度、形狀和位置,以及螺紋制件的各項參數。適用于機械制造業、精密工、模具制造業、儀器儀表制造業、軍事工業、航空航天及汽車制造業、電子行業、塑料與橡膠行業的計量室、檢查站和高等院校、科研院所等,可對機械零件、量具、刀具、夾具、模具、電子元件、電路板、沖壓件、塑料及橡膠制品等進行質量檢測和控制。
典型測量對象有:
測量各種成型零件如樣板、樣板車刀、樣板銑刀、沖模和凸輪的形狀。
測量外螺紋(螺紋塞規、絲桿和蝸桿等)的中徑、小徑、螺距、牙型半角。
測量齒輪滾刀的導程、齒形和牙型角。
測量電路板、鉆;蚩装迳系目椎奈恢枚,鍵槽的對稱度等形位誤差。
三、規格參數:
測量范圍:
X向行程:200㎜ 圓工作臺直徑:φ213㎜
Y向行程:100㎜ 平工作臺尺寸(㎜):260×270
測角目鏡角度分劃范圍:360° 頂針間的最大夾緊長度:700㎜
螺紋輪廓目鏡角度分劃范圍:±7° 頂針間能容納的最大直徑:φ100㎜
圓工作臺角度分劃范圍:0°~360° 高頂針架最大夾緊長度:200㎜
圓分度頭角度分劃范圍:0°~360° 高頂針架能容納的最大直徑:φ250㎜
主顯微鏡立柱的傾斜范圍:±12° 干涉狹縫旋轉范圍:±90°
分度值:
X、Y向分度值:0.0002㎜ 圓工作臺角度分度值:30″
測角目鏡角度分度值:1′ 圓分度頭角度分度值:1′
輪廓目鏡角度分度值:±12 主顯微鏡立柱傾斜角度分度值:30′
測量度(被測件與儀器溫度差別不大于0.5℃,儀器室內溫度20℃±1℃):
(1+L/100)μm,其中L為測量長度,單位:㎜
物鏡放大率,工作距離及視場直徑:
物鏡放大率 | 總放大率 | 工作距離(㎜) | 視場直徑(㎜) |
1× | 10× | ≈79 | ≈φ20 |
3× | 30× | ≈69 | ≈φ6.7 |
5× | 50× | ≈49 | ≈φ4 |
光學定位器的主要技術參數:
測桿垂直方向擺動范圍:±3° 定位變動性:<1μm
孔徑大于5㎜時,可測孔的最大深度:≈15㎜ 測力(N):0.1±0.03
測量范圍(㎜):5-200
儀器主機外形尺寸(㎜)長×寬×高=1300×1250×800
儀器主機重量:450㎏
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日本PEAK光學顯微鏡|筆式顯微鏡|立式顯微鏡|帶燈顯微鏡|帶刻度顯微鏡2001-75|2008-75|2050-75
1960-5X、2019-15X、1961-10X 64 2021-15X、1962-15X、 2021-22X、1964-22X、2022-35X、1966-10X帶燈、2022-55X、1975-7X帶刻度、2022-75X、1976-7X帶刻度、2023-15X、1977-A3X、2026-8X、1977-B、2026-15X、1977-C、2026-20X、1977-D、2027、1977-E、2028-10X、1980、2032-10X、1983-10X帶刻度、2033-90X、1985-7X陶質、2033-100X、1985-10X陶質、2033-115X17 1985-14X陶質、2034-20X、1985-20X陶質、2034-40X、1986磁性、2034-60X、1987-3.5X帶燈、2034-100X、1990-4X散透鏡、2034-150X、1990-7X、2034-200X、1993-10X、2035-1、1994-2X、2035-11、1994-4X、2036-25X、1996-30X帶燈、2036-50X、1996-30X、2037-L-30X、1997-3X、2037-30X、1998-7X帶燈、2038-4X、1999-7X、2039、2001-25X、2041、2001-50X、2044、2001-75X、2046、2001-100X、2047-3X、2003-1209SAO、2048-V13D、2003-1209SA3、2048-V16D、2003-1209WZ3、2048-V20D、2003-3407SAO、2048-V26D、2003-3407SA3、2048-A13D、2003-3408WZ3、2048-A16D、2003-1006WZ3、2048-A20D、2003-1006SAO、2048-A26D、2003-1006SA3、2048-AW、2003-1504WA3、2050-25X、2003-2003WA3、2050-50X、2004-10X帶刻度、2050-75X、2008-25X、2050-100X、2008-50X、2051-30X、2008-75X、2051-60X、2008-100X、2052-3X、2009-20X帶燈顯微鏡、2053、2009-40X帶燈顯微鏡、2054-20、2009-60X帶燈顯微鏡、2054-40、2009-100X帶燈顯微鏡、2054-60、2010、2054-100、2015-7X、2054-150、2016-L-15X、2054-200、2016-15X、2054-300、2017-6X、2054-20EIM、2017-8X、2054-40EIM、2018-8X、2054-60EIM、2018-P.H.、2054-100EIM