詳細說明 |
★的圖象分辨力,更高的性和堅固性 ★平場物鏡作為標準配置,能夠提供同類顯微鏡的圖象平場性 ★CX21顯微鏡采用與奧林巴斯顯微鏡相同的UIS2光學系統 ★優化對比度的阿貝聚光鏡 ★使用方便、經久耐用的無支架載物臺 ★零件安全性-避免學生損壞 ★極為平滑的四孔旋轉式物鏡轉盤 ★機械載物臺聚焦限位,杜絕發生以外 ★防霉處理,提供零件耐用性 |
交流掃描電化學顯微鏡系統(ac-SECM)
間歇接觸掃描電化學顯微鏡系統(ic-SECM)
微區電化學阻抗測試系統(LEIS)
掃描振動點擊測試系統(SVET)
電解液微滴掃描系統(SDS)
交流電解液微滴掃描系統(ac-SDS)
掃描開爾文探針測試系統(SKP)
非觸式微區形貌測試系統(OSP)
出色的性能
快速精準的閉環定位系統為電化學掃描探針納米級研究的需求而特別設計。結合Uniscan 獨特的混合型32-bit DAC技術,用戶可以選擇合適實驗研究的最佳配置
先進和靈活的工作平臺
系統可提供9種探針技術,使得M470成為全球最靈活的電化學掃描灘鎮工作平臺。
全面的附件
7種模塊可選,3種不同電解池,各式探針,長距顯微鏡以及后處理數據分析軟件。
M470新產品特征
SECM自動處理曲線
SECM用戶自定義處理曲線步長變化
高分辨率讀取
手動或自動調節相位
M470同時具備如下特點:
傾斜校正
X或Y曲線相減(5階多項式)
2D或3D快速傅里葉變化
實驗,探針移動和區域繪圖的自動排序
圖形實驗測序引擎(GESE)
支持多區域掃描
所有實驗多個數據視圖
峰值分析
是由
M470技術參數
工作站(所有技術)
掃描范圍(x,y,z) 大于100nm
掃描驅動分辨率 最高0.1nm
閉環定位 線性零滯后編碼器,直接實時讀出x,z和y位移
軸分辨率(x,y,z) 20nm
最大掃描速度 12.5mm/s
測量分辨率 32-bit解碼器@高達40MHz
壓電(ic-和ac-掃描探針技術)
振動范圍 20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量
最小振動分辨率 0.12nm(16-bit DAC,4μm)
壓電晶體伸展 100μm
定位分辨率 0.09nm(20-bit DAC ,100μm)
機電
掃描前端 500×420×675mm(H×W×D)
掃描控制單元 275×450×400mm(H×W×D)
功率 250W
顯微維氏硬度計HVS-1000詳細參數:
顯微維氏硬度計HVS-1000用途:
可對經熱處理、碳化、淬火硬化層,剛、有色金屬和微小及薄形等零件進行硬度處理。
顯微維氏硬度計HVS-1000的主要技術參數:
1.試驗力:0.098、0.245、0.49 、0.98 、1.96 、2.94 、4.9 、9.8(N) 相當于:10、25、50、100、200、300、500、1000(千克力) 2.轉換標尺:洛氏、表面洛氏、布氏。 3.最小檢測單位:0。031μm; 4.總放大倍率:100X(觀察用)、400X(測量用; 5.加荷控制:自動加荷、保荷、卸荷; 6.試樣最大高度:65mm; 7.數據輸出方式:內置打印機各RS-232接口; 8.外形尺寸:405X290X480(mm) 9.重量:25kg。 標準附件: 物鏡40X、10X;維氏壓頭、測微目鏡、標準顯微塊/2塊、薄形試臺、圓柱體試臺、平口試臺、水平儀、電源線、輔助工具 |
光學儀器儀表物理探究實驗儀器棱鏡透鏡電子測量儀器電學儀器電工儀器儀表
天文顯微兩用手提箱(天文啟蒙教育器材)
型號:天文F350x50口徑:50mm焦距:350mm光學系統:折射式目鏡: 二個目鏡H20mm H4mm
顯微鏡300x 600x 1200x三個物鏡腳架:伸縮式鋁合金三腳架光源: 兩節5號電池
包裝:手提箱為了配合使用,還配有鑷子、樣品瓶、吸管、
載波片、植物標本等工具。
天文顯微兩用手提箱480元/箱
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HV-1000型顯微硬度計主要特點特別適合于測定金屬零件表面滲碳滲氮層及薄小零件的顯微硬度檢測,選配努氏壓頭可做努氏硬度試驗。HV-1000型顯微硬度計主要技術規格測量范圍:5-3000HV試驗力:0.09807、0.2452、0.4904、0.9807、1.961、2.942、4.904、9.807牛頓(10、25、50、100、200、300、500、1000克力)測量系統放大倍數:500倍、125倍測量精度:0.125微米試件允許最大高度:75毫米壓頭中心至機壁距離:100毫米電源:交流220伏,50Hz外形尺寸:340 x 160 x 375毫米重量:約40千克
HV-1000型顯微硬度計主要附件座標試臺:1個 平口鉗:1個金剛石角錐壓頭:1只 大V形塊:1個標準顯微硬度塊:2塊 小V形塊:1個打印機:1個 薄板試臺:1個細軸試臺:1個 電子計算器:1個