掃描電子顯微鏡（SEM）產品及廠家
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-06-06
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-06-06
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現了功能的多樣化。根據需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-06-06
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現了功能的多樣化。根據需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-06-06
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構，在隔離空氣的環境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-06-06
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機，實現了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-06-06
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環境。
更新時間:2025-06-06
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統 jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結構。
更新時間:2025-06-06
日本jeol 雙束加工觀察系統 jib-4700f，該設備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統，在1kv低加速電壓下,實現了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-06-06
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-06-06
德neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設計優勢，采用專利保護的雙光路設計，完全可以實現真空環境下太赫茲波段應用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實現近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-06-06
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數據存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態或缺陷 。
更新時間:2025-06-06
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數據存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態或缺陷 。
更新時間:2025-06-06
掃描電鏡最基本的功能是對各種固體樣品表面進行高分辨形貌觀察。應用于生物學、植物學、地質學、冶金學等領域。觀察可以是一個樣品的表面，也可以是一個切開的面，或是一個斷面。冶金學家已興奮地直接看到原始的或磨損的表面。可以很方便地研究氧化物表面，晶體的生長或腐蝕的缺陷。例如：花粉顆粒，硅藻和昆蟲。另一方面，它可以拍出與樣品表面相應的立體感強的照片。
更新時間:2025-06-05
jsm-7001f熱場發射掃描電子顯微鏡是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應用需求的理想平臺。jsm-7001f具有大型、5軸、全對中馬達驅動自動化樣品臺,還有單動作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時，也具有適用于eds、wds、ebsp和cl的理想結構的擴充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。 q -6154
更新時間:2025-06-05
賽可臺式掃描電鏡sne-3200m最大放大倍率6萬倍，采用二次電子和背散射電子雙重探測器，加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高，非導電性樣品不經過前處理即可直接觀察分析，圖像景深高，立體感強，分辨率高，支持eds等成分分析設備。 q -6154
更新時間:2025-06-05
掃描電鏡是用極細的電子束在樣品表面掃描，將產生的二次電子用特制的探測器收集，形成電信號運送到顯像管，在熒光屏上顯示物體。（細胞、組織）表面的立體構像，可攝制成照片。 q -6154
更新時間:2025-06-05
賽可臺式掃描電鏡的sim探測器，觀察微觀區域精細表面形貌，同時可選配bse和eds，表征微區成分信息，可擴展低真空觀察模式，非導電樣品直接用bse探測器觀察，免制備導電膜層,使用當前最先進的電子光學設計，自動控制技術，二次電子分辨率達到7nm @20kv，是目前臺式掃描電鏡的最高水平。 q -6154
更新時間:2025-06-05
jsm-7001f熱場發射掃描電子顯微鏡是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應用需求的理想平臺。jsm-7001f具有大型、5軸、全對中馬達驅動自動化樣品臺,還有單動作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時，也具有適用于eds、wds、ebsp和cl的理想結構的擴充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。 q -6154
更新時間:2025-06-05
掃描電鏡sne-3000mb最大放大倍率高達3萬倍，采用背散射電子探測器（固態型）非導電性樣品，不經過前處理即可直接觀察分析-標準模式-充電式還原模式樣品交換1分鐘內即可獲取圖像-高，低真空系統提供背散射電子圖像含水分樣品可選配冷卻載臺不經過前處理實時觀察分析。q -6154
更新時間:2025-06-05
深圳市瑞盛科技是韓國賽可公司在中國區域的戰略合作伙伴，一起致力于廣大中小企業分析檢測的專業設備提供商,賽可公司研發生產的迷你掃描電鏡實現了大電鏡的小型化處理，結構緊湊操作便捷。 q -6154
更新時間:2025-06-05
韓國進口掃描電鏡mini-sem最大放大倍率10萬倍 、采用二次電子和背散射電子雙重探測器 、加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高 、非導電性樣品不經過前處理即可直接觀察分析 、圖像景深高，立體感強，分辨率高 、支持eds等成分分析設備。 q -6154
更新時間:2025-06-05
賽可臺式掃描電鏡載物臺5軸控制系統（傾斜功能x,y(40mm), r(360˚), tilt(45˚), z(0~35mm)，支持自動化功能（自動對焦,自動調整對比度和亮度,調整電子束尺寸,消像散） 鼠標操控，操作便捷，可存儲多種形式圖片，測量分析方式多樣。 q -6154
更新時間:2025-06-05
jsm-6510分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（eds），統合于一體。結構緊湊的eds由顯微鏡主體系統的電腦控制，操作員只用一只鼠標，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。 q -6154
更新時間:2025-06-05
賽可sne-3000mb最大放大倍率高達3萬倍,采用背散射電子探測器,非導電性樣品不經過前處理即可直接觀察分析，樣品交換1分鐘內即可獲取圖像，提供背散射電子圖像。 q -6154
更新時間:2025-06-05
日本電子jsm-6510分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（eds），統合于一體。結構緊湊的eds由顯微鏡主體系統的電腦控制，操作員只用一只鼠標，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。 q -6154
更新時間:2025-06-05
最大放大倍率高達3萬倍，采用背散射電子探測器(solid state type)，非導電性樣品不經過前處理即可直接觀察分析，樣品交換1分鐘內即可獲取圖像， high & low vacuum system，提供背散射電子圖像，含水分樣品可選配冷卻載臺不經過前處理實時觀察分析。 q -6154
更新時間:2025-06-05
掃描電子顯微鏡jsm-6510采用了熱電子槍，內有標準菜單能滿足用戶的多樣化需求，豐富的選配件如cryo系統等能進一步擴大應用范圍,預安裝的標準菜單中凝集了日本電子的專業知識和經驗，可以安裝低溫冷凍系統、冷凍樣品臺等豐富的選配件，還可選配eds進行元素分析。q -6154即使是sem新手也能設定適合每個樣品的條件。
更新時間:2025-06-05
賽可掃描電鏡sne-3200m最大放大倍率6萬倍；采用二次電子和背散射電子雙重探測器；加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高；非導電性樣品不經過前處理即可直接觀察分析；圖像景深高，立體感強，分辨率高；支持eds等成分分析設備。q -6154
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡jsm-6010系列觸控式電子顯微鏡jsm-6010是一款高效能、操作容易、高效率的電子顯微鏡,全新設計的intouchscope操作界面，即便是初次使用儀器的人員也能輕松上手。面對越來越多元化的操作環境需求，jsm-6010的操作設計，能讓您更輕松、有效率的使用儀器。 q -6154
更新時間:2025-06-05
臺式掃描電鏡sne-3200最大放大倍率6萬倍；采用二次電子和背散射電子雙重探測器；加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高；非導電性樣品不經過前處理即可直接觀察分析；圖像景深高，立體感強，分辨率高；支持eds等成分分析設備。 q -6154
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
臺式掃描電鏡sne-3000mb最大放大倍率3萬倍；采用二次電子和背散射電子雙重探測器；加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高；非導電性樣品不經過前處理即可直接觀察分析；圖像景深高，立體感強，分辨率高；支持eds等成分分析設備。 q -6154
更新時間:2025-06-05
臺式掃描電鏡sne-4500m最大放大倍率10萬倍，圖像景深高，立體感強，分辨率高，載物臺5軸控制系統（傾斜功能）, 支持自動化功能（自動對焦,自動調整對比度和亮度,調整電子束 尺寸,消像散），鼠標操控，操作便捷，可存儲多種形式圖片，測量分析方式多樣，可選配eds，bse，馬達操控載物臺等多種配件。 q -6154
更新時間:2025-06-05
日本電子通用型掃描電子顯微鏡jsm-6510系列，采用了熱電子槍，內有標準菜單能滿足用戶的多樣化需求，豐富的選配件如cryo系統等能進一步擴大應用范圍。q -6154
更新時間:2025-06-05
日本電子通用型掃描電子顯微鏡jsm-6510系列，采用了熱電子槍，內有標準菜單能滿足用戶的多樣化需求，豐富的選配件如cryo系統等能進一步擴大應用范圍，可以安裝低溫冷凍系統、冷凍樣品臺等豐富的選配件。 q -6154
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
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