掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家
德國(guó)zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時(shí)間:2025-06-06
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性?xún)r(jià)比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺(tái)搜索視野并開(kāi)始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時(shí)獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報(bào)告等。
更新時(shí)間:2025-06-06
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開(kāi)發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報(bào)告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時(shí)間:2025-06-06
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時(shí)間長(zhǎng)，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時(shí)間:2025-06-06
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡(jiǎn)單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過(guò)遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對(duì)樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對(duì)不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時(shí)間:2025-06-06
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺(tái)，通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:2025-06-06
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺(tái)，通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:2025-06-06
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過(guò)程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過(guò)程。
更新時(shí)間:2025-06-06
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過(guò)組合新開(kāi)發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測(cè)，并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析，超過(guò)了wds的能量分辨率。
更新時(shí)間:2025-06-06
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測(cè)器，組合使用wds和eds，能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時(shí)間:2025-06-06
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對(duì)樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過(guò)與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評(píng)估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時(shí)間:2025-06-06
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級(jí)混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測(cè)器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒(méi)式肖特基電子槍組合，可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
更新時(shí)間:2025-06-06
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡(jiǎn)便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
更新時(shí)間:2025-06-06
德neaspec真空太赫茲波段近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國(guó)neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計(jì)優(yōu)勢(shì)，采用專(zhuān)利保護(hù)的雙光路設(shè)計(jì)，完全可以實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測(cè)量。hv-thz-neasnom在實(shí)現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時(shí)，由于采用0.1-3thz波段的時(shí)域太赫茲光源（thz-tds），也可以實(shí)現(xiàn)近場(chǎng)太赫茲成像和圖譜的同時(shí)測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-06-06
thz-neasnom太赫茲近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡 -30nm光學(xué)信號(hào)空間分辨率
更新時(shí)間:2025-06-06
掃描電鏡最基本的功能是對(duì)各種固體樣品表面進(jìn)行高分辨形貌觀察。應(yīng)用于生物學(xué)、植物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、冶金學(xué)等領(lǐng)域。觀察可以是一個(gè)樣品的表面，也可以是一個(gè)切開(kāi)的面，或是一個(gè)斷面。冶金學(xué)家已興奮地直接看到原始的或磨損的表面。可以很方便地研究氧化物表面，晶體的生長(zhǎng)或腐蝕的缺陷。例如：花粉顆粒，硅藻和昆蟲(chóng)。另一方面，它可以拍出與樣品表面相應(yīng)的立體感強(qiáng)的照片。
更新時(shí)間:2025-06-05
jsm-7001f熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應(yīng)用需求的理想平臺(tái)。jsm-7001f具有大型、5軸、全對(duì)中馬達(dá)驅(qū)動(dòng)自動(dòng)化樣品臺(tái),還有單動(dòng)作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時(shí)，也具有適用于eds、wds、ebsp和cl的理想結(jié)構(gòu)的擴(kuò)充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。 q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
賽可臺(tái)式掃描電鏡sne-3200m最大放大倍率6萬(wàn)倍，采用二次電子和背散射電子雙重探測(cè)器，加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高，非導(dǎo)電性樣品不經(jīng)過(guò)前處理即可直接觀察分析，圖像景深高，立體感強(qiáng)，分辨率高，支持eds等成分分析設(shè)備。 q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
掃描電鏡是用極細(xì)的電子束在樣品表面掃描，將產(chǎn)生的二次電子用特制的探測(cè)器收集，形成電信號(hào)運(yùn)送到顯像管，在熒光屏上顯示物體。（細(xì)胞、組織）表面的立體構(gòu)像，可攝制成照片。 q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
賽可臺(tái)式掃描電鏡的sim探測(cè)器，觀察微觀區(qū)域精細(xì)表面形貌，同時(shí)可選配bse和eds，表征微區(qū)成分信息，可擴(kuò)展低真空觀察模式，非導(dǎo)電樣品直接用bse探測(cè)器觀察，免制備導(dǎo)電膜層,使用當(dāng)前最先進(jìn)的電子光學(xué)設(shè)計(jì)，自動(dòng)控制技術(shù)，二次電子分辨率達(dá)到7nm @20kv，是目前臺(tái)式掃描電鏡的最高水平。 q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
jsm-7001f熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應(yīng)用需求的理想平臺(tái)。jsm-7001f具有大型、5軸、全對(duì)中馬達(dá)驅(qū)動(dòng)自動(dòng)化樣品臺(tái),還有單動(dòng)作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時(shí)，也具有適用于eds、wds、ebsp和cl的理想結(jié)構(gòu)的擴(kuò)充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。 q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
掃描電鏡sne-3000mb最大放大倍率高達(dá)3萬(wàn)倍，采用背散射電子探測(cè)器（固態(tài)型）非導(dǎo)電性樣品，不經(jīng)過(guò)前處理即可直接觀察分析-標(biāo)準(zhǔn)模式-充電式還原模式樣品交換1分鐘內(nèi)即可獲取圖像-高，低真空系統(tǒng)提供背散射電子圖像含水分樣品可選配冷卻載臺(tái)不經(jīng)過(guò)前處理實(shí)時(shí)觀察分析。q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
深圳市瑞盛科技是韓國(guó)賽可公司在中國(guó)區(qū)域的戰(zhàn)略合作伙伴，一起致力于廣大中小企業(yè)分析檢測(cè)的專(zhuān)業(yè)設(shè)備提供商,賽可公司研發(fā)生產(chǎn)的迷你掃描電鏡實(shí)現(xiàn)了大電鏡的小型化處理，結(jié)構(gòu)緊湊操作便捷。 q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
賽可臺(tái)式掃描電鏡mini-sem放大倍數(shù)高（相對(duì)光學(xué)顯微鏡）、成像速度快、大景深、體積小巧、操作簡(jiǎn)便、價(jià)格便宜等。q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
韓國(guó)進(jìn)口掃描電鏡mini-sem最大放大倍率10萬(wàn)倍 、采用二次電子和背散射電子雙重探測(cè)器 、加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高 、非導(dǎo)電性樣品不經(jīng)過(guò)前處理即可直接觀察分析 、圖像景深高，立體感強(qiáng)，分辨率高 、支持eds等成分分析設(shè)備。 q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
賽可臺(tái)式掃描電鏡載物臺(tái)5軸控制系統(tǒng)（傾斜功能x,y(40mm), r(360˚), tilt(45˚), z(0~35mm)，支持自動(dòng)化功能（自動(dòng)對(duì)焦,自動(dòng)調(diào)整對(duì)比度和亮度,調(diào)整電子束尺寸,消像散） 鼠標(biāo)操控，操作便捷，可存儲(chǔ)多種形式圖片，測(cè)量分析方式多樣。 q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
jsm-6510分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（eds），統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的eds由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操作員只用一只鼠標(biāo)，就可完成從圖像觀測(cè)到元素分析的整個(gè)過(guò)程。 q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
賽可sne-3000mb最大放大倍率高達(dá)3萬(wàn)倍,采用背散射電子探測(cè)器,非導(dǎo)電性樣品不經(jīng)過(guò)前處理即可直接觀察分析，樣品交換1分鐘內(nèi)即可獲取圖像，提供背散射電子圖像。 q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
日本電子jsm-6510分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（eds），統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的eds由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操作員只用一只鼠標(biāo)，就可完成從圖像觀測(cè)到元素分析的整個(gè)過(guò)程。 q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
最大放大倍率高達(dá)3萬(wàn)倍，采用背散射電子探測(cè)器(solid state type)，非導(dǎo)電性樣品不經(jīng)過(guò)前處理即可直接觀察分析，樣品交換1分鐘內(nèi)即可獲取圖像， high & low vacuum system，提供背散射電子圖像，含水分樣品可選配冷卻載臺(tái)不經(jīng)過(guò)前處理實(shí)時(shí)觀察分析。 q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
掃描電子顯微鏡jsm-6510采用了熱電子槍?zhuān)瑑?nèi)有標(biāo)準(zhǔn)菜單能滿足用戶的多樣化需求，豐富的選配件如cryo系統(tǒng)等能進(jìn)一步擴(kuò)大應(yīng)用范圍,預(yù)安裝的標(biāo)準(zhǔn)菜單中凝集了日本電子的專(zhuān)業(yè)知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)，可以安裝低溫冷凍系統(tǒng)、冷凍樣品臺(tái)等豐富的選配件，還可選配eds進(jìn)行元素分析。q -6154即使是sem新手也能設(shè)定適合每個(gè)樣品的條件。
更新時(shí)間:2025-06-05
賽可掃描電鏡sne-3200m最大放大倍率6萬(wàn)倍；采用二次電子和背散射電子雙重探測(cè)器；加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高；非導(dǎo)電性樣品不經(jīng)過(guò)前處理即可直接觀察分析；圖像景深高，立體感強(qiáng)，分辨率高；支持eds等成分分析設(shè)備。q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡jsm-6010系列觸控式電子顯微鏡jsm-6010是一款高效能、操作容易、高效率的電子顯微鏡,全新設(shè)計(jì)的intouchscope操作界面，即便是初次使用儀器的人員也能輕松上手。面對(duì)越來(lái)越多元化的操作環(huán)境需求，jsm-6010的操作設(shè)計(jì)，能讓您更輕松、有效率的使用儀器。 q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
臺(tái)式掃描電鏡sne-3200最大放大倍率6萬(wàn)倍；采用二次電子和背散射電子雙重探測(cè)器；加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高；非導(dǎo)電性樣品不經(jīng)過(guò)前處理即可直接觀察分析；圖像景深高，立體感強(qiáng)，分辨率高；支持eds等成分分析設(shè)備。 q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進(jìn)行觀察，可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù)，直觀的操作界面的設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時(shí)間:2025-06-05
臺(tái)式掃描電鏡sne-3000mb最大放大倍率3萬(wàn)倍；采用二次電子和背散射電子雙重探測(cè)器；加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高；非導(dǎo)電性樣品不經(jīng)過(guò)前處理即可直接觀察分析；圖像景深高，立體感強(qiáng)，分辨率高；支持eds等成分分析設(shè)備。 q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
臺(tái)式掃描電鏡sne-4500m最大放大倍率10萬(wàn)倍，圖像景深高，立體感強(qiáng)，分辨率高，載物臺(tái)5軸控制系統(tǒng)（傾斜功能）, 支持自動(dòng)化功能（自動(dòng)對(duì)焦,自動(dòng)調(diào)整對(duì)比度和亮度,調(diào)整電子束 尺寸,消像散），鼠標(biāo)操控，操作便捷，可存儲(chǔ)多種形式圖片，測(cè)量分析方式多樣，可選配eds，bse，馬達(dá)操控載物臺(tái)等多種配件。 q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
日本電子通用型掃描電子顯微鏡jsm-6510系列，采用了熱電子槍?zhuān)瑑?nèi)有標(biāo)準(zhǔn)菜單能滿足用戶的多樣化需求，豐富的選配件如cryo系統(tǒng)等能進(jìn)一步擴(kuò)大應(yīng)用范圍。q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
日本電子通用型掃描電子顯微鏡jsm-6510系列，采用了熱電子槍?zhuān)瑑?nèi)有標(biāo)準(zhǔn)菜單能滿足用戶的多樣化需求，豐富的選配件如cryo系統(tǒng)等能進(jìn)一步擴(kuò)大應(yīng)用范圍，可以安裝低溫冷凍系統(tǒng)、冷凍樣品臺(tái)等豐富的選配件。 q -6154
更新時(shí)間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進(jìn)行觀察，可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù)，直觀的操作界面的設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時(shí)間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進(jìn)行觀察，可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù)，直觀的操作界面的設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時(shí)間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進(jìn)行觀察，可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù)，直觀的操作界面的設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時(shí)間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進(jìn)行觀察，可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù)，直觀的操作界面的設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時(shí)間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進(jìn)行觀察，可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù)，直觀的操作界面的設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時(shí)間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進(jìn)行觀察，可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù)，直觀的操作界面的設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時(shí)間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進(jìn)行觀察，可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù)，直觀的操作界面的設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時(shí)間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進(jìn)行觀察，可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù)，直觀的操作界面的設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時(shí)間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進(jìn)行觀察，可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù)，直觀的操作界面的設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時(shí)間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進(jìn)行觀察，可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù)，直觀的操作界面的設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時(shí)間:2025-06-05
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