掃描電子顯微鏡（SEM）產品及廠家
“tm4000”和“tm4000plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認到生成報告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標配了報告生成功能，觀察結束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報告。此外，選配項還可實現更多功能。可在樣品倉內加裝光學相機來拍攝照片，以往通過經驗尋找目標位置*1，現在可
更新時間:2025-06-04
“regulus系列“是日立高新技術的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續機型開發的 “regulus8100“ 以及su8200系列的升 “regulus8220“ “regulus8230“ “regulus8240“，共4個機型，均實現了分辨率和操作性的強化。
更新時間:2025-06-04
fe-sem獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構，因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料等域。
更新時間:2025-06-04
fe-sem獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構，因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料等域。近年來，以materials integration為代表，其應用域及用途在不斷擴展，短時間內獲取大量數據，減輕作業負荷成為市場的一大需求。
更新時間:2025-06-04
日立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡su9000是門為電子束敏感樣品和需大300萬倍穩定觀察的先進半導體器件，高分辨成像所設計。
更新時間:2025-06-04
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩定性的傳統，同時將分辨率提高到新的限，全新設計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標配 jeol 新開發的 neo
更新時間:2025-06-04
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學者易懂的樣品交換導航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2025-06-04
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發的高亮度電子槍和透鏡系統，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業速度。
更新時間:2025-06-04
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-06-04
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-06-04
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現了功能的多樣化。根據需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-06-04
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現了功能的多樣化。根據需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-06-04
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構，在隔離空氣的環境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-06-04
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機，實現了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-06-04
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環境。
更新時間:2025-06-04
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統 jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結構。
更新時間:2025-06-04
日本jeol 雙束加工觀察系統 jib-4700f，該設備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統，在1kv低加速電壓下,實現了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-06-04
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-06-04
德neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設計優勢，采用專利保護的雙光路設計，完全可以實現真空環境下太赫茲波段應用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實現近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-06-04
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機 - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2025-06-03
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機 - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2025-06-03
多用途等離子處理腔室_tem & sem樣品清潔及貯存解決方案通過選配外部附件如：em-kleen遠程控制等離子源和/或tem樣品桿適配器，多用途腔室可配置成不同的應用。em-kleen遠程等離子體源可以采用空氣、氧氣或氫氣產生氧和氫自由基，用于樣品清潔和表面活化。如果腔室配備了tem樣品桿適配器，則可接受和清潔來自thermo fisher、jeo
更新時間:2025-06-03
美國tergeo em等離子清潔儀用于電子顯微鏡tergeo em型sem及tem樣品/樣品桿清潔用等離子清潔儀.為去除sem & tem樣品的碳氫污染而設計。特有的雙清洗模式（immersion和downstream）能夠處理各種不同的樣品，從嚴重污染的電子光學孔徑光闌到各種脆弱易損樣品，如石墨烯、碳納米管、類金剛石碳膜以及多孔碳支持膜銅網上的tem樣品。
更新時間:2025-06-03
電鏡腔等離子清潔儀（遠程等離子清潔儀）美國pie出品的em-kleen型遠程等離子清潔儀，廣泛用于sem掃描電鏡,fib聚焦離子束雙束電鏡,tem透射電鏡,xps_x射線光電子能譜分析儀,ald原子層沉積系統,cd-sem, ebr, ebi, euvl和其它高真空系統，可同時清潔真空腔室和樣品！
更新時間:2025-06-03
覃思科技提供各種型號的優質和創新的樣品座、載網、校準標樣、靶材、碳棒、碳繩、工具、銀導電膠、碳膠帶、銅膠帶、儲存盒、真空密封等各種耗材器具，歡迎新老客戶咨詢下單！
更新時間:2025-06-03
覃思科技提供各種型號的優質和創新的樣品座、載網、校準標樣、靶材、碳棒、碳繩、工具、銀導電膠、碳膠帶、銅膠帶、儲存盒、真空密封等各種耗材器具，歡迎新老客戶咨詢下單！
更新時間:2025-06-03
荷蘭asi出品的tpx3cam是一款用于光學光子時間戳的快速光學相機。它基于一種新型硅像素傳感器，并結合了timepix3 asic和讀出芯片技術，適用于電子、離子或單光子等需要時間分辨成像的各種應用
更新時間:2025-06-03
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-05-30
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-05-30
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-05-30
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-05-30
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-05-30
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發射掃描電鏡，達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統和電子光學系統，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發射掃描電鏡甚至不需要傳統意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點： 1. 新型
更新時間:2025-05-30
s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發的電子光學系統，強大的自動化功能，操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2025-05-30
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達300mm ●最大觀察區域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優中心馬達臺可以傾
更新時間:2025-05-30
tescan amber 鎵離子雙束掃描電鏡是一款集成了電子束和離子束的電子顯微鏡系統。sem 鏡筒提供高分辨成像能力，fib 鏡筒能在成像的同時對樣品進行加工處理。
更新時間:2025-05-28
tescan sem掃描電鏡使用電子束分析樣品表面，分析尺度可至納米級。掃描電子顯微鏡可獲得高分辨的高倍圖像，廣泛應用于各個科學和工業領域。
更新時間:2025-05-28
tescan 聚焦離子束掃描電鏡是一款集成了電子束和離子束的電子顯微鏡系統。sem 鏡筒提供高分辨成像能力，fib 鏡筒能在成像的同時對樣品進行加工處理。雙束電鏡系統開創了一種新的應用方式。
更新時間:2025-05-28
日立高新掃描電子顯微鏡此外，還搭載了全新的導航功能“sem map”，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點，實現直觀的視野移動。flexsem 1000 ii，憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kv下實現4.0 nm的分辨率。全新開發的用戶界面，具有亮度和對焦自動調節功能，可以在短時間內進行各種觀察。
更新時間:2025-05-22
日本東亞電波離子層析儀(離子色譜儀)本體裝置和數據處理裝置之間的通信，如導入lan的設施，可作遠距操作。擁有優越的擴張性、如增設pump、檢出器等的單元，可對應陰離子、陽離子2ch的同時分析。依抑制因子系統可
更新時間:2025-05-22
日立高新場發射掃描電子顯微鏡su8200系列日立高新場發射掃描電子顯微鏡su8200系列（hitachi uhr fe-sem su8200 series，su8220，su8230，su8240）采
更新時間:2025-05-22
日立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡su9000日立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡su9000是專門為電子束敏感樣品和需300萬倍穩定觀察的半導體器件，高分辨成像所設計。紫外臭氧清洗機常用于掃描
更新時間:2025-05-22
日立高新掃描電子顯微鏡flexsem 1000 i掃描電子顯微鏡可對材料的表面進行高倍率觀察及高精度元素分析，在納米技術、生命科學、產品設計研發及失效分析等領域有著廣泛的應用。flexsem 1000
更新時間:2025-05-22
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